- ファンクションテストは、アナログ、デジタル、パルス、マイコンテスト、電源、
ディスプレイの光学評価等の検査が出来ます。 - インサーキットテストは、ピンコンタクト、オープン/ショート、抵抗、コンデンサ、
コイル、ダイオード、トランジスタ、ICのピン浮き等の検査が出来ます。 - シリアル通信検査は、Boundary Scan, IEEE/IEC-, RS232-, I2C-Schnittstelle,
CAN-Bus, K-Bus, DeviceNet, LIN-Bus, Profibus, VISABus, Lon-Bus, EIB-Bus, TCP/IP, … - アナログテスト、デジタルテスト、インサーキットテストの自動プログラム生成及び、
自動吸い上げが出来るメニュー選択式のソフトウェア - ピンコンタクトテスト、ショートテスト、コンポーネントテスト、ICのピン浮き等の
不良個所をグラフィカルに表示出来ます。 - 外部プログラムとの統合
- CADデータとのインターフェース
- データ記録(トランジットレコーダー)
- ロジックアナライザー
- 高いテストスピードとすべての測定モジュールは自社開発品です。
- フラッシュROMプログラミング
- ROMエミュレーションを使用したマイクロプロセッサテスト
- 統計と不良評価
- 品質管理
- オフライン プログラミング・ステーション
- オフライン リペア・ステーション
- システム・キャリブレーション
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